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X熒光貴金屬檢測儀
型號：Smart100 Plus
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產品說明、技術參數及配置
符合國標GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，本產品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗基礎之上研發的一款新型測試儀，采用新一代探測器及多道技術，實現高計數率，1秒出結果，準確分析貴金屬含量。同時，具備二維移動平臺及高清工業攝像頭，實現樣品定位。（可對99.99%黃金進行有效分析）。
性能特點
快，1秒鐘出結果
采用行業先進的極速探測器——（FAST-SDD）分辨率可達125eV
優勢：FAST-SDD的探測面積大（面積達25mm ）、探測面積越大，單位時間內接受到的信號越多；且分辨率越低，分辨效果越好；帶來高的分辨效果及測試精度
采用行業先進的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現高計數率，保證采集有效計數率超過300KCPS
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統
優勢：使貴金屬的激發效率更高
光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點
單點測試、多點測試、網格測試模式
2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，單點測試、多點測試、網格測試模式
自帶高純金測試曲線
可高效區分99.9%及99.99%黃金純度
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、5種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
可配備貴金屬有害元素測試軟件
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等
人性化的設計
更快捷：多點測試，點哪測哪
應用領域
質檢中心
金銀珠寶首飾店貴金屬冶煉廠
首飾加工廠
分析測試中心
典當行貴金屬回收
性能特點
快，1秒鐘出結果
采用行業先進的極速探測器——（FAST-SDD）分辨率可達125eV
優勢：FAST-SDD的探測面積大（面積達25mm ）、探測面積越大，單位時間內接受到的信號越多；且分辨率越低，分辨效果越好；帶來高的分辨效果及測試精度
采用行業先進的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現高計數率，保證采集有效計數率超過300KCPS
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統
優勢：使貴金屬的激發效率更高
光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點
單點測試、多點測試、網格測試模式
2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，單點測試、多點測試、網格測試模式
自帶高純金測試曲線
可高效區分99.9%及99.99%黃金純度
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、5種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
可配備貴金屬有害元素測試軟件
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等
人性化的設計
更快捷：多點測試，點哪測哪
應用領域
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首飾加工廠
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