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致發光光譜儀附件
型號：GemPL-405
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產品說明、技術參數及配置
GemPL-405基于光致發光光譜原理，通過與GemUV-100聯用，進行熒光光譜測量。熒光光譜作為吸收光譜的重要補充，可對la、lla型鉆石、CVD合成鉆石、HTHP合成鉆石、Ib型黃色鉆石、彩鉆、珍珠 （淡水/海水，天然/染色）、尖晶石、琥珀等進行快速、無損檢測。
性能特點
快速便捷聯用
只需將光纖和USB數據線連接到GemUV-100主機，即可對光致發光附件的完全控制，無需另配電腦或切換軟件，激光功率和光譜測顯過程完全軟件控制，無需手動操作。
微區光譜測量
光致發光附件基于無限遠光學顯微鏡光路設計，同軸光照明，光譜與成像共焦，輕松實現微區測量。
自由切換倍率
通過物鏡轉換盤，手動切換物鏡，根據不同樣品特征，選擇合適的倍率進行測量，有效提升該附件的適用范圍及性能表現。
性能特點
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微區光譜測量
光致發光附件基于無限遠光學顯微鏡光路設計，同軸光照明，光譜與成像共焦，輕松實現微區測量。
自由切換倍率
通過物鏡轉換盤，手動切換物鏡，根據不同樣品特征，選擇合適的倍率進行測量，有效提升該附件的適用范圍及性能表現。
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